• 膜厚仪(双型)DT-156

膜厚仪(双型)DT-156

所属分类: 物性探测仪器 | 发布日期:2022-04-22 09:04:27

MK 科学膜厚仪DT-156可以测量磁性金属(铁、钢、铁素体不锈钢)和非磁性金属(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上各种涂层的膜厚。

产品详情

MK 科学膜厚仪DT-156可以测量磁性金属(铁、钢、铁素体不锈钢)和非磁性金属(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上各种涂层的膜厚。膜厚仪(双型)DT-156膜厚仪DT-156可以测量磁性金属(铁、钢、铁素体不锈钢)和非磁性金属(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上各种涂层的膜厚。主机、校准用标准箔(50、96、101、250、500、997 μm)、铁铝材料标准板、分析软件光盘、USB数据线、2节AAA电池、操作手册、手提箱DT-156 型探头 F(电磁型) N(涡流型) 测量精度 0 至 850 μm:(± 3% + 1 μm) 0 至 850 μm:(± 3% + 1.5 μm) 850 μm 至 1250 μm: (± 5%) 850 μm 至 1250 μm:(± 5%) 分辨率 0 至 50 μm:0.1 μm 50 至 850 μm:1 μm 850 至 1250 μm:0.01 mm 最小材料厚度 0.5 mm 0.3 mm 最小弯曲半径(凸面)表面)5 mm 测量范围 0 至 1250 μm 最小面积 10 x 10 mm 工作环境 温度:0-40 °C 湿度:20-90% RH(无结露) 尺寸/重量 113.5 x 54 x 27 mm 约 110 g电源 1.5 V 2 节 AAA 电池

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