• 电磁法数显膜厚仪CM-8821

电磁法数显膜厚仪CM-8821

所属分类: 物性探测仪器 | 发布日期:2022-04-22 09:04:36

日本唢呐测试CM8821是一款电磁数字式膜厚仪,用于测量磁性材料上非磁性涂层的厚度。测量范围:0-1000 μm

产品详情

日本唢呐测试CM8821是一款电磁数字式膜厚仪,用于测量磁性材料上非磁性涂层的厚度。测量范围:0-1000 μm电磁法数显膜厚仪CM-8821CM8821是一款电磁数字式膜厚仪,用于测量磁性材料上非磁性涂层的厚度。测量范围:0-1000 μm主体、5Mφ8mm标准探头、使用说明书、便携包、标准块(磁性材料) 套装内容 5Mφ8mm标准探头标准块(磁性材料) 校准箔(标准膜厚版)型号 CM8821 测量范围 0-1000 μm 显示分辨率 0.1 μm, 1 μm 测量精度 ± 1-3% n 或 ± 2.5 μm 最小测量区域 直径 6 mm 最小材料厚度 0.3 mm 电源 4 节 AA 电池,低电量指示,自动电源关 工作温度 0- + 45 ℃, <90% RH 尺寸/重量 160x68x32mm, 250g (不含电池)

发表评论

北京日本工业品代购上海日本工业品代购天津日本工业品代购重庆日本工业品代购安徽日本工业品代购福建日本工业品代购广东日本工业品代购广西日本工业品代购贵州日本工业品代购甘肃日本工业品代购海南日本工业品代购河南日本工业品代购黑龙江日本工业品代购湖北日本工业品代购湖南日本工业品代购河北日本工业品代购江苏日本工业品代购江西日本工业品代购吉林日本工业品代购辽宁日本工业品代购