三光电子笔式探头，尖端配备φ2.6超细磁极，非常方便测量小零件。电磁式膜厚仪 SM-Pen笔式探头，尖端配备φ2.6超细磁极，非常方便测量小零件。用于测量小零件和狭窄空间型号 SM-Pen 测量范围 0 至 300 μm 0 至 5 mm（2 行刻度） 测量精度 ± 2 μm 均匀表面或指示值的 ± 5% 探针笔类型 φ11 × 130 mm，CVD 磁极：φ2.6 × 4.5 mm 电源 AAA 干电池 (1.5V) x 6 工作温度 0-40°C (无结露) 尺寸 重量 105 (W) x 48 (H) x 165 (D) mm, 500g
电磁式膜厚仪 SM-Pen
三光电子笔式探头，尖端配备φ2.6超细磁极，非常方便测量小零件。
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