• 电磁式膜厚仪SWT-8000ⅡF

电磁式膜厚仪SWT-8000ⅡF

所属分类: 物性探测仪器 | 发布日期:2022-04-22 10:04:46

三光电子电磁式膜厚仪 SWT-8000F 可通过调零和标准调整立即测量,测量范围宽达 0 至 2.5 mm。

产品详情

三光电子电磁式膜厚仪 SWT-8000F 可通过调零和标准调整立即测量,测量范围宽达 0 至 2.5 mm。电磁式膜厚仪SWT-8000ⅡF电磁式膜厚仪 SWT-8000F 可通过调零和标准调整立即测量,测量范围宽达 0 至 2.5 mm。涂装、衬里、电镀 一般涂装型号 SWT-8000ⅡF 测量范围 0 至 2.50 mm 显示分辨率 1 μm:0 至 999 μm 0.1 μm:0 至 400 μm 0.5 μm:400 至 500 μm 0.01 mm:1.00 至 2.50 mm 测量精度 0 至 100 μm:±1 μm或指示值的± 2% 101 μm 至 2.50 mm:± 2% 以内 显示方法 CD 数字,显示保持存储器 校准线 x 1 探头 1 点恒压接触型,带 V 切割,φ13 x 48 mm 电源 AA 电池( 1.5 V) ) × 2 自动关机 工作温度 0-40 ℃ (无结露) 尺寸 重量 72 (W) × 30 (H) × 156 (D) mm, 约 270 g

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