• 涡流膜厚仪SWT-8000N

涡流膜厚仪SWT-8000N

所属分类: 物性探测仪器 | 发布日期:2022-04-22 10:04:14

三光电子SWT-8000N 是一款涡流式薄膜厚度计,可通过调零和标准调整立即测量。测量范围:0 到 2.00 毫米。

产品详情

三光电子SWT-8000N 是一款涡流式薄膜厚度计,可通过调零和标准调整立即测量。测量范围:0 到 2.00 毫米。涡流膜厚仪SWT-8000NSWT-8000N 是一款涡流式薄膜厚度计,可通过调零和标准调整立即测量。测量范围:0 到 2.00 毫米。测量范围为 0 至 2.0 mm 的宽范围。调零和标准调整允许立即测量。型号 SWT-8000ⅡN 测量范围 0 至 2.00mm 显示分辨率(切换) 1m 0 至 999m 0.1m 0 至 400m 0.5m 400 至 500m 0.01mm 1.00 至 2.00mm 测量精度(均匀表面)> 0 至 100m ± 1m 或以内± 2% 101m 至 2.00mm 指示值的± 2% 显示格式 LCD 数字探头 1 点恒压接触型,带 V 切,φ13 × 47mm 内存校准曲线 × 1 电源 AA 电池 (1.5V) 2 块使用温度0-40℃(无结露) 尺寸 72mm (W) x 30mm (H) x 156mm (D) 重量 270g

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