三光电子超声波膜厚仪 Quintsonic 可测量金属（铁、非铁）和非金属（塑料、玻璃等）基材的膜厚。另外，测量薄膜本身的厚度。超声波膜厚仪 Quintsonic超声波膜厚仪 Quintsonic 可测量金属（铁、非铁）和非金属（塑料、玻璃等）基材的膜厚。另外，测量薄膜本身的厚度。主机、充电电池、使用说明书、AC适配器、数据线、Q软件（测量值可传输到个人电脑）、共植体、外壳、探头（30mm*45mm、重量170g）型号 Quintsonic 测量方法 超声波回波反射法 测量范围 10 至 500 μm（涂层） 壁厚测量 最大约 8 mm（取决于对象） 最小测量区域 φ11（在平面上） 分辨率 1 μm 测量精度 100 μm 或更小: ± (3%) + 2 μm), 100 μm 以上: ± (2% + 2 μm) 附加功能 记忆功能、带统计计算功能的电源 充电电池或 AC 适配器 尺寸 重量 82 (W) × 150 (H) ) × 35 (D) 毫米，约 320 克
超声波膜厚仪 Quintsonic
三光电子超声波膜厚仪 Quintsonic 可测量金属（铁、非铁）和非金属（塑料、玻璃等）基材的膜厚。另外，测量薄膜本身的厚度。
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